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[新闻公告]   SC 切晶体及其较高 ESR：影响与核心价值

2026-7-2     DEI Blog_07.02.26

本文综合阐述 SC 切晶体高 ESR 特性的成因、电路影响与性能权衡。相较于 AT 切、BT 切晶体，SC 切因应力补偿结构具备更高 ESR，会对环路增益、起振速度与电路设计带来一定挑战，但这也是其极致性能的固有代价。凭借超低老化率、超高宽温稳定度、优异相位噪声与强抗环境应力能力，SC 切综合性能远超普通切型，是高端 OCXO、卫星导航、雷达与精密测控设备高精度授时的最优方案。
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[新闻公告]   新产品发布：TCXO温补晶振 - 贴片式方波输出温补晶振VCTCXO1487BE-4P_HCMOS

2026-7-2     TCXO、温补晶振、贴片式、VCTCXO

VCTCXO1487BE-4P_HCMOS 是迪拉尼推出的 14.3×8.7mm 贴片式方波温补晶振，面向工业级高稳、低相噪场景。产品覆盖 0.001–600MHz 宽频，支持 - 40℃至 + 80℃宽温，具备 ±0.5ppm 温稳、±1ppm 年老化、低至 - 145dBc/Hz@20MHz/100kHz 的优异相噪，且宽电压适配、抗严苛环境、易集成量产，是射频通信、卫星系统、高精度定位等领域的核心时钟源。
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[新闻公告]   什么是扩频调制？如何测量扩频调制？扩频调制有多重要

2026-7-1     DEI Blog_07.01.26

扩频调制是现代无线通信核心技术，通过将窄带信号扩展为宽带信号，实现抗干扰、高通信隐私与高效频谱共享。可通过频谱仪频域观测、示波器时域分析与信号解调完成参数测量，广泛应用于 CDMA 通信、蓝牙、无线遥控等场景，有效提升无线系统的稳定性、安全性与频谱利用效率。
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[新闻公告]   SC 切晶体较高的 ESR 如何影响相位噪声性能

2026-6-30     DEI Blog_06.30.26

SC 切晶体较高的 ESR 会带来热噪声升高、环路增益噪声及自热频扰，对相位噪声存在一定负面影响。但凭借更高 Q 值、优异的应力补偿结构与极低老化特性，SC 切可从根本上压制噪声劣化，结合低噪声电路优化后，整体相位噪声性能全面优于 AT 切，动态环境下频谱纯度更高、长期性能更稳定，是基站、雷达、卫星及精密仪器等低相噪高端应用的优选。
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高稳定性、精准时序、Stratum 3 、温补晶振、TCXO DEI Blog_09.18.23 DEI Blog_03.12.26 DEI Blog_01.26.24 DEI Blog_01.15.24 DEI Blog_05.06.26 DEI Blog_02.29.24 DEI Blog_11.28.24 DEI Blog_10.08.24 DEI Blog_07.23.25 DEI Blog_05.07.26 DEI Blog_03.27.24 DEI Blog_06.25.24 DEI Blog_07.07.25 DEI Blog_07.24.25 DEI Blog_07.28.25 DEI Blog_07.27.27 DEI Blog_06.27.25 DEI Blog_10.14.24 DEI Blog_04.28.24 DEI Blog_02.15.24 DEI Blog_12.02.25 High Frequency Low Phase Noise OCXO DEI Blog_09.22.23 DEI Blog_02.12.24 DEI Blog_08.13.24 双恒温 DEI Blog_09.17.24 DEI Blog_01.03.25 DEI Blog_09.08.23 DEI Blog_06.13.24 地下钻井勘探