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[新闻公告]   SAW 还是 BAW？按频段、温漂、损耗与阻塞要求做选择

2026-11-5     DEI Blog_11.05.26

本文对比 SAW、TC-SAW 与 BAW 三类射频滤波器，从频段、温度漂移、插入损耗、功率容量及邻道阻塞抑制等维度梳理各自特性与适用边界，说明普通 SAW 适合中低频、成本敏感场景，TC-SAW 作为折中方案改善温漂性能，BAW 更适配高频、高 Q 值、陡抑制需求；同时给出量化选型清单，并介绍 DEI 可提供 SAW、陶瓷、LC、晶体滤波器及 OCXO、TCXO、VCO 等配套频控器件，支持工程师根据系统指标评估适配方案。
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[新闻公告]   窄带晶体滤波器极点越多越好吗？选择性、群时延与插损取舍

2026-11-4     DEI Blog_11.04.26

本文纠正了窄带晶体滤波器选型中 “极点越多性能越好” 的常见误区，解析极点数量对滤波器过渡带、形状因子、群时延及插入损耗的影响，对比巴特沃斯、切比雪夫等不同响应类型的取舍特点，给出判断是否增加极点的适用条件、完整规格提报清单，并介绍 DEI 可提供的晶体滤波器及配套频控器件方案，指导工程师在选择性、群时延、插损之间权衡，选择满足系统指标的最小阶数方案。
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[新闻公告]   晶体、LC 还是腔体滤波器？按带宽、抑制、功率与体积做选型

2026-11-3     DEI Blog_11.03.26

本文围绕晶体、LC、腔体、SAW、陶瓷五类常用射频滤波器展开选型对比，从通带带宽、阻带抑制、功率容量、群时延、体积成本五大核心指标，梳理各类滤波器的性能优势与适用边界，区分各自适配场景，同时给出标准化选型需求清单，并介绍 DEI 可提供的滤波器及配套频率元器件方案，指导工程师根据量化指标匹配合适滤波方案，也支持组合架构设计。
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[新闻公告]   实验台上很好，装进机箱变差：RF 时钟串扰的定位路线

2026-11-2     DEI Blog_11.02.26

本文针对射频设备台架测试指标正常、装入机箱后出现杂散抬升、底噪恶化的时钟串扰问题，梳理干扰来源与耦合路径，给出完整排查方案。先将异常频点与数字时钟谐波、DC/DC 开关频率做频谱对应，再通过单变量 A/B 试验，依次切换供电、时钟、线束、屏蔽接地条件，区分传导耦合与辐射耦合；同时给出布局滤波、线缆隔离、机箱搭接等分层整改措施，并介绍 Dynamic Engineers 可提供低相噪晶振、低杂散 VCO/PLL、SAW 滤波器等器件，帮助工程师抑制时钟串扰、优化射频链路纯净度。
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DEI Blog_09.12.24 DEI Blog_04.15.24 DEI Blog_03.12.26 低功耗、低老化率低相噪恒温晶体振荡器OCXO DEI Blog_05.29.24 SMD、锁相环、高频应用低噪声 TCXO、温补晶振、贴片式、VCTCXO DEI Blog_03.05.26 低抖动 TCXO, 温补晶振 DEI Blog_11.26.25 DEI Blog_12.30.25 低功耗、快速预热、低相位噪声、恒温晶体振荡器、OCXO DEI Blog_04.02.24 DEI Blog_11.07.24 贴片式、削峰正弦波、TCXO DEI Blog_11.12.24 恒温晶振、OCXO2012CO-100MHz-A-V DEI Blog_11.10.25 低功耗、快速预热、低老化、低相位噪声、恒温晶振 DEI Blog_04.17.24 DEI Blog_05.30.24 DEI Blog_09.03.23 DEI DEI Blog_09.21.23 DEI Blog_07.27.27 DEI Blog_12.15.25 DEI Blog_04.24.26 DEI Blog_10.17.24 抗冲击 DEI Blog_09.20.26