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  • [新闻公告]   SC 切晶体老化性能更优异的核心成因
    2026-6-17     DEI Blog_06.17.26
    本文剖析 SC 切晶体老化性能优于 AT 切的核心成因。SC 切凭借专属应力补偿切角，从根源抵消机械与热应力，搭配更低的装配与镀膜内应力、高温零温漂最优工作点、高线性度频漂特性、强环境抗扰能力与更高 Q 值谐振特性，大幅抑制长期频率漂移、减缓器件老化，性能表现稳定且可预判校准，是长周期、高精度、高可靠 OCXO 精密授时场景的核心优选。
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