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[新闻公告]   理解 SC 切晶体较高等效串联电阻（ESR）的影响

2026-6-25     DEI Blog_06.25.26

SC 切晶体虽具备卓越的频率稳定度与老化性能，但其等效串联电阻（ESR）高于 AT 切晶体，会对振荡电路的环路增益、起振速度、设计复杂度及整机功耗带来一定挑战，同时存在杂散谐振风险与更高的制造成本。不过凭借其极低的老化率、优异的应力抗性、高 Q 值与出色相位噪声，在高精度 OCXO、5G 通信、航空航天及测试仪器等核心场景中仍不可替代，通过电路优化可有效管控 ESR 带来的不利影响。
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温补晶体振荡器 DEI Blog_03.12.26 DEI Blog_10.23.25 DEI Blog_07.02.25 抗冲击高频、低相位噪声、电压控制振荡器、VCO1212BQ-2110MHz-2170MHz-A 矮尺寸 DEI Blog_11.21.25 DEI Blog_03.13.25 DEI Blog_09.11.24 DEI Blog_11.21.24 DEI Blog_10.21.24 DEI Blog_08.21.25 DEI Blog_11.06.24 DEI Blog_09.13.24 恒温晶体振荡器 DEI Blog_04.07.25 DEI Blog_11.29.24 DEI Blog_07.01.25 DEI Blog_03.05.24 DEI Blog_04.07.24 高稳定性、低老化、低相位噪声、双恒温晶体振荡器 DEI Blog_06.28.24 DEI Blog_01.28.26 DEI Blog_01.27.26 DEI Blog_02.24.25 贴片式、削峰正弦波、温补晶振、VCTCXO DEI Blog_11.24.25 DEI Blog_05.14.24 DEI Blog_02.02.24 低噪、快速、稳定、紧凑、锁相环模块 DEI Blog_06.12.24